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DVP-AE4000光时域反射仪

AE4000系列光时域反射分析仪采用独立平台和模块化设计。FC-1独立平台可支持不同类型的测试模块,满足不同测试需求:AE4000系列OTDR模块满足光纤网络测试需求;TC700系列以太网模块满足各类以太网测试需求。

AE4000系列OTDR模块是公司最新推出的一款产品,事件盲区0.8m,动态最大可达45dB,重量不到3公斤,其自带的电池可支持设备持续工作8小时以上,其小巧的外形尺寸和封装设计非常适用于现场应用。

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产品信息

AE4000系列光时域反射分析仪采用独立平台和模块化设计。FC-1独立平台可支持不同类型的测试模块,满足不同测试需求:AE4000系列OTDR模块满足光纤网络测试需求;TC700系列以太网模块满足各类以太网测试需求。

DVP-AE4000光时域反射仪

功能特点

AE4000系列OTDR模块是公司最新推出的一款产品,事件盲区0.8m,动态最大可达45dB,重量不到3公斤,其自带的电池可支持设备持续工作8小时以上,其小巧的外形尺寸和封装设计非常适用于现场应用。
功能特点
●可扩展性

▪AE4000系列包含多种OTDR模块,可以满足您在光纤链路中的各种测试需求
▪整机基于FC-1平台设计可与以太网分析模块、光谱分析等通信测试模块互换兼容,扩展您的应用领域
●精度高 盲区小于0.8m
●智能性高
▪7寸触屏设计,便于操作 ▪特有快速存储功能,测试完成可一键完成曲线存储
▪独创mini菜单,查看曲线信息更加快捷
▪支持全触屏操作与全按键操作同步进行,满足不同的测试场合

技术规格

型号
AE4000A
AE4000B
AE4000C
AE4000D
AE4000E
AE4000F
AE4000G
AE4000H
AE4000K



波长(nm)
1310/1550
1310/1550/
1625
1310/1550/
1650
1310/1550/
1490
1310/1550/1490/
1625
1310/1550/1490/
1650
波长精度(nm)
±20
动态(dB)
37/35
40/38
43/41
45/43
39/38/38
39/38/38/38
事件盲区(m)
〈0.8
〈0.8
衰减盲区(m)
〈5
〈4



最小量程(m)
100
最大量程(km)
400
最小距离分辨率(m)
0.05
采样点数
128000
距离不确定度(m)
±(0.75m+0.0002%×距离+采样分辨率)



损耗门限(dB)
0.01
损耗分辨率(dB)
0.001
损耗线性度(dB/dB)
0.03



脉宽(ns)
3~20000
测量时间(s)
用户自定义、实时
最大存储曲线数
〉10k


企业实力

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AE4000系列光时域反射分析仪采用独立平台和模块化设计。FC-1独立平台可支持不同类型的测试模块,满足不同测试需求:AE4000系列OTDR模块满足光纤网络测试需求;TC700系列以太网模块满足各类以太网测试需求。AE4000系列OTDR模块是公司最新推出的一款产品,事件盲区0.8m,动态最大可达45dB,重量不到3公斤,其自带的电池可支持设备持续工作8小时以上,其小巧的外形尺寸和封装设计非常适用于现场应用。